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AEC-Q102產(chǎn)品試驗,車規(guī)級認證:車燈是整車的重要組件,圍繞車燈及其附件的可靠性試驗標(biāo)準(zhǔn)紛繁復(fù)雜,各主機廠的試驗標(biāo)準(zhǔn)均有不同描述,通用性較差。廣電計量提供一站式AEC-Q102產(chǎn)品試驗,光電器件車規(guī)級認證服務(wù)。
AEC-Q101認證試驗,車規(guī)級認證:廣電計量在SiC第三代半導(dǎo)體器件的AEC-Q認證上具有豐富的實戰(zhàn)經(jīng)驗,為您提供專業(yè)可靠的AEC-Q101認證服務(wù),同時,我們也開展了間歇工作壽命(IOL)、HAST、H3TRB、HTRB、HTGB、高壓蒸煮(Autoclave)試驗服務(wù),設(shè)備能力全覆蓋以SiC為第三代半導(dǎo)體器件的可靠性試驗?zāi)芰Α?/p>
AEC-Q100認證試驗,車規(guī)級認證:廣電計量失效分析實驗室AEC-Q技術(shù)團隊,執(zhí)行過大量的AEC-Q測試案例,積累了豐富的認證試驗經(jīng)驗,可為您提供更專業(yè)、更可靠的AEC-Q認證試驗服務(wù)。
集成電路工程化量產(chǎn)測試,元器件失效分析:集成電路工程化量產(chǎn)測試。集成電路測試卡位產(chǎn)業(yè)鏈關(guān)鍵節(jié)點,貫穿設(shè)計、制造、封裝測試以及應(yīng)用的全過程。
超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉與測試失效分析:超?規(guī)模集成電路測試是確定或評估?規(guī)模集成電路的功能和電性能的過程,是驗證設(shè)計、監(jiān)控?產(chǎn)、保證質(zhì)量、分析失效以及指導(dǎo)應(yīng)?的重要?段。
裝備定壽延壽失效分析專業(yè)檢測:廣電計量采用特定專業(yè)的檢測設(shè)備,采用加速試驗、?品分析、歷史數(shù)據(jù)收集等方式方法,輔以產(chǎn)品失效分析,即時發(fā)現(xiàn)貯存失效機理,并基于科學(xué)的概率數(shù)理統(tǒng)計理論,計算出產(chǎn)品的可靠性特征參數(shù)和壽命特征值分布曲線,確定裝備貯存壽命。
DPA破壞性物理元器件失效分析:廣電計量提供覆蓋被動元件、分立器件和集成電路在內(nèi)的元器件破壞性物理分析(DPA)服務(wù),其中針對先進半導(dǎo)體?藝,具備覆蓋7nm以下芯片DPA分析能?,將問題鎖定在具體芯片層或者μm范圍內(nèi),針對有水汽控制要求的宇航級空封器件,提供PPM級內(nèi)部水汽成分分析,保證空封元器件特殊使用要求。
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