砂塵試驗(yàn)  可加急檢測(cè)服務(wù)內(nèi)容

廣電計(jì)量可為電子元器件、儀器儀表、結(jié)構(gòu)件以及組件開(kāi)展IP5X、IP6X的防塵試驗(yàn)。

服務(wù)范圍

各類設(shè)備、電子、儀器儀表、汽車以及航空航天產(chǎn)品的組件以及整機(jī)。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

·GB/T 4208-2017/IEC 60529:2013  外殼防護(hù)等級(jí)（IP代碼）

·GB/T2423.37-2006/IEC 60068-2-68:1994  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2 部分：試驗(yàn)方法  試驗(yàn)L：砂塵試驗(yàn)

·GB/T 5095.11-1997  電子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法 第11部分：氣候試驗(yàn)

·GB/T 28046.4-2011/ ISO 16750-4:2010  道路車輛 電氣及電子設(shè)備的環(huán)境條件和試驗(yàn) 第4部分：氣候負(fù)荷

·RTCA DO-160E-2004 Environmental Conditions and Test Procedures for Airborne Equipment

·MIL-STD-202H-2015 Department of Defense Test Method Standard Electronic and Electrical Component Parts

檢測(cè)項(xiàng)目

IP5X試驗(yàn)、IP6X試驗(yàn)、砂塵（吹塵）試驗(yàn)、砂塵（吹砂）試驗(yàn)。

相關(guān)資質(zhì)

CNAS、CMA、DILAC

測(cè)試周期

1-2天

砂塵試驗(yàn)  可加急檢測(cè)服務(wù)背景

所有可能暴露于干燥的吹砂、吹塵或降塵條件下的所有機(jī)械、光學(xué)、電子、電化學(xué)和機(jī)電裝置，均需進(jìn)行砂塵試驗(yàn)。以檢驗(yàn)產(chǎn)品其對(duì)砂塵環(huán)境的適應(yīng)性。

吹砂、吹塵、降塵環(huán)境對(duì)產(chǎn)品的典型不利影響，主要有以下9個(gè)方面：

1）表面的腐蝕和磨損；

2）密封滲透；

3）電路性能劣化；

4）開(kāi)口和過(guò)濾裝備堵塞；

5）配合部件的物理影響；

6）活動(dòng)部件卡住和（或）受阻礙；

7）熱傳導(dǎo)性降低；

8）光學(xué)特性受影響；

9）由于妨礙通風(fēng)或冷卻而引起的過(guò)熱和著火危害。